Việt Nam

Giao thoa kế laser

 

Với thị phần dẫn đầu ở Nhật Bản, sản phẩm giao thoa kế laser của Fujifilm và các thiết bị liên quan được sử dụng để đo biên dạng mặt và mặt sóng của ống kính và kim loại tính tới nanomet.

Máy đo giao thoa Fujifilm cho phép quan sát thực tế mà không cần tiếp xúc, bất kể chất liệu mẫu vật là gì nếu nó có bề mặt bóng như gương. Chúng tôi cũng cung cấp thiết bị phân tích vân giao thoa tự động phân tích và định lượng các mô hình vân giao thoa. Thiết bị này có thể được sử dụng để tạo ra các hệ thống đo lường hiệu suất cao, có chức năng cao và dễ sử dụng.

Dòng sản phẩm giao thoa kế của chúng tôi được thiết kế cho nhiều mục đích khác nhau, bao gồm phép đo độ phẳng của các bề mặt chính xác (chẳng hạn như thủy tinh, kim loại và gốm) và phép đo chính xác bề mặt hình cầu của thấu kính thủy tinh hoặc nhựa, bi thép, v.v. Giao thoa kế Fujifilm tự tin sử dụng hiệu quả cho các phép đo có độ chính xác cao.

Giao thoa kế đo độ phẳng

Hệ thống đo bề mặt phẳng của Fujifilm đã trở thành tiêu chuẩn hiện hành trong ngành quang học, có khả năng đo độ phẳng của nhiều bề mặt phẳng với độ chính xác cao, sai lệch đến từng nanomet, bao gồm kính, kim loại và gốm. Chúng cũng có thể được sử dụng theo cách không tiếp xúc để đánh giá Đạt/Không đạt dễ dàng mà không làm trầy xước đối tượng thử nghiệm.

Kính

  • Kính bảo vệ (cho điện thoại thông minh, v.v.)
  • Lăng kính (hệ thống tách màu quang học, v.v.)
  • Cơ chất của mặt nạ bán dẫn
  • Các loại bộ lọc khác nhau
  • Kính LCD

Vân giao thoa

Kim loại

  • Khuôn đúc và khuôn kim loại
  • Đĩa nhôm

Vân giao thoa

Khác

  • Bánh bán dẫn silic (cho các thiết bị bán dẫn)
  • Cơ chất cho đĩa cứng
  • Khác (bộ phận vòi nước, v.v.)

Vân giao thoa

Sản phẩm Mục tiêu đo Kích thước khẩu độ Độ chính xác của dải truyền Độ phóng đại

Giao thoa kế laser compact F601

Bề mặt phẳng/Mặt sóng truyền

φ60

λ/20

×1

Giao thoa kế laze φ102/φ150 G102

Bề mặt phẳng/Mặt sóng truyền

φ102 
φ150
λ/20 ×1 - ×8,6

 

Giao thoa kế dùng cho đo lường bế mặt hình cầu

Hệ thống đo bề mặt hình cầu của Fujifilm đã trở thành tiêu chuẩn hiện hành trong ngành quang học, cho phép đo nhiều bề mặt hình cầu với độ chính xác cao, sai lệch đến từng nanomet, bao gồm ống kính, bi thép, khuôn đúc và khuôn.


Chúng cũng có thể được sử dụng theo cách không tiếp xúc để đánh giá Đạt/Không đạt dễ dàng mà không làm trầy xước đối tượng thử nghiệm.

Kính

  • Nhiều loại ống kính hình cầu
    (camera kỹ thuật số, ống kính trên xe, hệ thống an ninh, cảm biến, kính áp tròng, máy photocopy, v.v.)

Vân giao thoa

Kim loại

  • Bi thép
  • Ổ bi
  • Khuôn (tối đa khoảng φ60 mm)

Vân giao thoa

Khác

  • Khuôn cho ống kính nhựa (kính áp tròng, v.v.)
  • Các loại bộ lọc khác nhau

Vân giao thoa

Sản phẩm Mục tiêu đo Kích thước khẩu độ Độ chính xác của dải truyền Độ phóng đại

Giao thoa kế laser compact F601

Bề mặt phẳng/Mặt sóng truyền

φ60

λ/20

×1

Giao thoa kế kiểm tra vòng Newton F601FC II

Bề mặt phẳng/Mặt sóng truyền

φ60 λ/20 ×1

 

Hệ thống phân tích vân

Vân giao thoa được phân tích để tạo ảnh hiển thị kỹ thuật số về hình dạng bề mặt và mặt sóng truyền bằng cách lượng hóa, cho phép phân tích kết quả đo chi tiết hơn. Kết quả có thể được sử dụng để cải thiện cả việc phát triển sản phẩm hoặc kiểm soát chất lượng.

Tên sản phẩm Mục hiển thị Điểm ảnh được phân tích Các chức năng khác

Hệ thống phân tích vân A1

P-V
RMS
chế độ xem từ trên không
bản đồ đường viền
biên dạng mặt cắt
biểu đồ tần suất
Quang sai Seidel
Đa thức Zernike (đến tận quang sai bậc 10)

256 × 256
512 × 512

Lưu dữ liệu
Đánh giá P/F
nhiều mặt nạ
đầu ra code V*1
lược bỏ dữ liệu

*1 Code V là nhãn hiệu của Hiệp hội Nghiên cứu Quang học