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日本

圧力測定フィルム プレスケール

半導体・半導体製造装置における
プレスケールの活用事例

半導体の微細化に伴い、「圧力ばらつき」「治具の平行度」などの製造時の圧力が半導体品質に及ぼす影響は高まりつつあります。プレスケールは半導体製造における製造データ取得・設備メンテナンス・品質検査に加えて、「CMP研磨装置の当たり具合確認」・「静電チャック/セラミックヒーター製造時の平行度確認」・「モールド装置の圧力分布確認」などの半導体製造装置や装置の関連部材などにおいても幅広く使用されております。
当ページにて半導体製造のフローに沿って使用事例をご紹介致します。下記事例以外にも様々なシーンでご使用頂いております。簡便に、コストを抑え、「面」で圧力を測定したい方は是非プレスケールをご検討下さい。

半導体製造プロセス

前工程(ウエハプロセス)

1. シリコンウエハ購入

高純度のシリコンを円板状に切り出したものをシリコンウエハを呼びます。ウエハのサイズは、直径200mm/300mmが一般的です。次世代の規格として、450mmサイズの検討も始まっています。

2. 洗浄工程

購入したばかりのウエハには、さまざまなゴミや金属イオンが付着しているため、高純度の酸やアルカリ系の薬品を用いて、取り除きます。

3. 成膜工程

半導体に使われる絶縁膜や、導電膜をウエハ上に成膜します。

4. フォトリソグラフィ工程

レチクルを使って、ウエハ上に回路パターンを描画(転写)します。

5. イオン打ち込み工程

半導体の電気特性(P型、N型)を決めるリン、ボロンなどの不純物をウエハ内部に入れます。

7. 成膜工程

階層ごとに配線を分離する絶縁膜で覆います。

8. 平坦化工程

次の加工をしやすくするために、ウエハ表面を平らにします。

後工程(組立プロセス)

9. バッググラインドテープ(表面保護テープ)貼り付け

バッググラインド時にウエハの回路面を保護する表面保護テープを貼り付けます。

10. バックグラインド

ウエハの裏側を削って、全体的に薄く仕上げます。

11. ダイシングテープ貼り付け

固定するためにウエハにテープを貼り付けます。

12. ダイシング

ウエハからチップを切り出します。

13. マウント

金属のリードフレームにチップを貼り付けます。

14. ボンディング(ワイヤーボンディング)

チップとリードフレームの電極を金線で接続します。

15. モールド(封止)

樹脂の封止材で密封します。

16. 仕上げ(マーキング)

社名、製品名などを印字します。

17. 測定

良品を選別して梱包します。

半導体実装技術

18. 実装技術

小型化、高性能化に向けて、回路基板の上に、LSIなどの小さな部品を取りつける技術です。

無料サンプル申し込み

プレスケールのサンプルを郵送にて送付いたします。
使い方の解説資料も合わせて送付します。