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ホーム ビジネスのお客さま 半導体材料 フォトレジスト ArF(193nm) ArF(193nm):用途
実験用の眼鏡をかけた研究者の背景に分子構造があるイメージ図。

フォトレジスト

ArF(193nm) : 用途

ポジ型ドライおよび液浸回路パターン形成、ネガ型現像(NTI)用材料

ArF Immersion Resist
CH
193nmの液浸露光に対応したFAiRSシリーズで9520シリーズ、ネガ型現像(NTI)の画像2枚。P300CD90とIsoCH80。
L/S
193nmの液浸露光に対応したFAiRSシリーズで9100シリーズ、ネガ型現像(NTI)とポジ型現象(PTI)の画像2枚。P90Line40とP76Line38。