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ホーム ビジネスのお客さま 半導体材料 フォトレジスト EUV(13.5nm) EUV(13.5nm):用途
複数の光に照らされる半導体材料であるウエハーのイメージ画像。

フォトレジスト

EUV(13.5nm) : 用途

ネガ型現像用EUV材料

パターン微細化と光源

パターン微細化は、より短い露光波長によってもたらされてきた

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